四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
四探針探頭 探頭 型號：GSZ-HP-501 
四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。 | ◆ 特性及規(guī)格： | | | 1 | 特制之手握式探筆 | 2 | 球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護(hù)薄膜不被損傷 | 3 | 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞 | 4 | 探頭使用壽命長 | 5 | 探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ |
|
型號
（Model） | 曲率半徑
（Radius） | 壓力
（loads） | 探針間距
（spacing） | 探針排列
（Arrangement） | GSZ-HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直線 |
|
